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    X荧光光谱分析仪 XAD

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    访问量 : 1181
    编辑时间 : 2021-01-05
    信息标签 : 真空等离子清洗机
    X荧光光谱分析仪 XAD


    产品类型:能量色散X荧光光谱分析仪

    产品名称:光谱分析仪

    产品型号:XAD

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    产品优势:

    XAD是一款全元素上照式荧光光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,可选配自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。

    被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

     

    1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm2

    2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm

    3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度)

    4)配备高精密微型移动滑台,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

    5)装配Si-Pin半导体探测器,即便测量0.03mm2以下的样品,几秒钟也可达到稳定性

    6)涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)

    7)成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)

    8)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

    9)四准直器可选,最小测量面积可达0.03mm2

    10)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%

     

    仪器配置:

    1. 微聚焦加强型X射线管:高稳定性X射线发生器

            —铍窗口,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽

            —50kV,1mA,高压和管流设定为应用程序提供更好的性能

            —符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射线标准,如有特殊要求,也可协商定制

    2. 接收器:Si-Pin半导体探测器(也可选配大窗口SDD探测器)

            —窗口面积≥25mm2

    3. 光路转换器

            —φ0.3mm(标配),φ0.2mm,φ0.5mm和□0.1*0.3mm多准直器可选

    4. 定制专享高敏感镜头

            —1/2.7”彩册CCD高敏感可变焦镜头,全局快门,有效像素:1280*960,光学18-46X,数字放大20-200倍  

    5. 恒压恒流快门式光闸

        —拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护

    6. 移动平台

            —手动高精密XY移动滑台,移动范围100mm*150mm,精度0.01mm,可承重15KG

    7. 全新一代高压电源

    —性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率

    8. 对流通风式过滤风冷

    —先进的散热系统配备,仪器即便全天候开启,都可保持恒温恒效

    9. 随附标准片

            —免费提供十二元素片、五选二标准片( Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um)、其他规格(选配)

    10. 其他配置

            —电脑一套、打印机、附件箱、电镀液测量杯(选配)


    技术参数:

    1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)

    2. 成分最低检出限:5ppm

    3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)

    4. 涂镀层最低检出限:0.005μm

    5. 最小测量直径□0.1*0.3mm(最小测量面积0.03mm2)

    6. 对焦距离:0-90mm

    7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*145mm

    8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm

    9. 仪器重量:100KG

    10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm

    11. XY轴工作台最大承重:15KG

    12. 多元迭代EFP核心算法(专利号:2017SR567637)

    专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

    单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

    多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

    合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

    合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

    重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

    如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

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    普瑞思仪器致力于实验检测业界前沿的分析技术研究与开发,为广大用户提供高效、专业的实验室检测仪器与服务。目前公司主营产品有:RoHS/RoHS2.0检测仪,ICP光谱仪,原子吸收光谱仪,高效液相色谱仪,X射线镀层测厚仪,X射线合金分析仪。现自有品牌高效液相色谱仪(HPLC),ICP光谱仪,X荧光光谱仪(XRF)等产品广泛应用于电子电器,五金塑胶,皮具皮革,纺织,印刷,塑胶,玩具等行业。



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